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Aktiv Normen | Herausgegeben: 14.08.2020
ISO 16413:2020-ed.2.0
Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry — Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting
(Évaluation de l´épaisseur, de la densité et de la largeur de l´interface des films fins par réflectrométrie de rayons X — Exigences instrumentales, alignement et positionnement, rassemblement des données, analyse des données et rapport)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 206.10 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: ISO 16413:2020-ed.2.0
Ausgabedatum: 14.08.2020
Seiten: 32
Land: Internationale technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.dePopuläre Herausgeber
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