Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktívna norma | Vydaná: 14.08.2020
ISO 16413:2020-ed.2.0
Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry — Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting
(Évaluation de l´épaisseur, de la densité et de la largeur de l´interface des films fins par réflectrométrie de rayons X — Exigences instrumentales, alignement et positionnement, rassemblement des données, analyse des données et rapport)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 206.10 EUR
zobraziť na eshopu
Podrobné informácie
Označenie: ISO 16413:2020-ed.2.0
Dátum vydania: 14.08.2020
Stránok: 32
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kde kúpiť?
Môžete zakúpiť na eshop.normservis.skPopulárna vydavatelia
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
