Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 14.08.2020
ISO 16413:2020-ed.2.0
Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry — Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting
(Évaluation de l´épaisseur, de la densité et de la largeur de l´interface des films fins par réflectrométrie de rayons X — Exigences instrumentales, alignement et positionnement, rassemblement des données, analyse des données et rapport)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 4 995.00 CZK
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: ISO 16413:2020-ed.2.0
Datum vydání: 14.08.2020
Stran: 32
Země: Mezinárodní technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czPopulární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
