Aktiv Normen | Herausgegeben: 15.07.2003

ISO 6342:2003-ed.2.0

Micrographics — Aperture cards — Method of measuring thickness of buildup area
(Micrographie — Cartes a fenetre — Méthode de mesurage de la zone de surépaisseur)

Verfügbare Sprachen: Englisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt

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Detailinformationen

Bezeichnung: ISO 6342:2003-ed.2.0

Ausgabedatum: 15.07.2003

Seiten: 3

Land: Internationale technische Norm

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Annotation

Description / Abstract: ISO 6342:2003 specifies a method of measuring the thickness of the buildup area on aperture cards (camera and copy cards) for manufacturing and inspection purposes.

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