Aktívna norma | Vydaná: 15.07.2003

ISO 6342:2003-ed.2.0

Micrographics — Aperture cards — Method of measuring thickness of buildup area
(Micrographie — Cartes a fenetre — Méthode de mesurage de la zone de surépaisseur)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené

od 56.20 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ISO 6342:2003-ed.2.0

Dátum vydania: 15.07.2003

Stránok: 3

Krajina: Medzinárodná technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Description / Abstract: ISO 6342:2003 specifies a method of measuring the thickness of the buildup area on aperture cards (camera and copy cards) for manufacturing and inspection purposes.

Populárna vydavatelia

celý katalóg