Aktivní norma | Vydána: 15.07.2003

ISO 6342:2003-ed.2.0

Micrographics — Aperture cards — Method of measuring thickness of buildup area
(Micrographie — Cartes a fenetre — Méthode de mesurage de la zone de surépaisseur)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

od 1 358.10 CZK zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: ISO 6342:2003-ed.2.0

Datum vydání: 15.07.2003

Stran: 3

Země: Mezinárodní technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Description / Abstract: ISO 6342:2003 specifies a method of measuring the thickness of the buildup area on aperture cards (camera and copy cards) for manufacturing and inspection purposes.

Populární vydavatelé

celý katalog