Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 16-1: Mechanical tests on contacts and terminations -- Test 16a: Probe damage
Verfügbare Sprachen: Japanisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
Bezeichnung: JIS C5402-16-1:2014
Ausgabedatum: 20.02.2014
Seiten: 6