Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 16-1: Mechanical tests on contacts and terminations -- Test 16a: Probe damage
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
Označenie: JIS C5402-16-1:2014
Dátum vydania: 20.02.2014
Stránok: 6