Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 16-1: Mechanical tests on contacts and terminations -- Test 16a: Probe damage
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Označení: JIS C5402-16-1:2014
Datum vydání: 20.02.2014
Stran: 6