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Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.02.2020
VDI/VDE 2655Blatt1.3
Optical metrology of microtopographies - Calibration of interferometers and interference microscopes for form measurement.
(Optische Messtechnik an Mikrotopografien - Kalibrieren von flächenhaft messenden Interferometern und Interferenzmikroskopen für die Formmessung.)
Verfügbare Sprachen: Englisch und Deutsch
Verfügbare Ausführung: PDF - sofortiges Download, Gedruckt
ab 153.20 EUR
im E-Shop anzeigen
Detailinformationen
Bezeichnung: VDI/VDE 2655Blatt1.3
Ausgabedatum: 01.02.2020
Seiten: 50
Land: Deutsche technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
Optische Messtechnik an Mikrotopografien - Kalibrieren von flächenhaft messenden Interferometern und Interferenzmikroskopen für die Formmessung.Populäre Herausgeber
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