Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Optical metrology of microtopographies - Calibration of interferometers and interference microscopes for form measurement.
(Optische Messtechnik an Mikrotopografien - Kalibrieren von flächenhaft messenden Interferometern und Interferenzmikroskopen für die Formmessung.)
Available languages: English and German
Available design: PDF - Immediate download, Print design
Designation: VDI/VDE 2655Blatt1.3
Publication date: 01/02/2020
Pages: 50
Country: German technical standard