Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Optical metrology of microtopographies - Calibration of interferometers and interference microscopes for form measurement.
(Optische Messtechnik an Mikrotopografien - Kalibrieren von flächenhaft messenden Interferometern und Interferenzmikroskopen für die Formmessung.)
Dostupné jazyky: Anglicky a nemecky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
Označenie: VDI/VDE 2655Blatt1.3
Dátum vydania: 01.02.2020
Stránok: 50
Krajina: Nemecká technická norma