Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 01.02.2020
VDI/VDE 2655Blatt1.3
Optical metrology of microtopographies - Calibration of interferometers and interference microscopes for form measurement.
Dostupné jazyky: Anglicky a německy
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 3 728.40 CZK
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: VDI/VDE 2655Blatt1.3
Datum vydání: 01.02.2020
Stran: 50
Země: Německá technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czAnotace
Optische Messtechnik an Mikrotopografien - Kalibrieren von flächenhaft messenden Interferometern und Interferenzmikroskopen für die Formmessung.Populární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
