Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Page 3386
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 23: Zkouška životnosti při zvýšené teplotě. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).
Available languages: English (the title page in Czech only)
Available design: Print design
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 23: Zkouška životnosti při zvýšené teplotě.
Available languages: Czech
Available design: Print design
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST
Available languages: English (the title page in Czech only)
Available design: Print design
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST
Available languages: English (the title page in Czech only)
Available design: Print design
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 24: Zrychlená zkouška odolnosti proti vlhkosti - HAST bez předpětí.
Available languages: Czech
Available design: Print design
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling
Available languages: English (the title page in Czech only)
Available design: Print design
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
Available languages: English (the title page in Czech only)
Available design: Print design
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 26: Zkoušení citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) - Model lidského těla (HBM).
Available languages: Czech
Available design: Print design
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 26: Zkoušení citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) - Model lidského těla (HBM). (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).
Available languages: English (the title page in Czech only)
Available design: Print design
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
Available languages: English (the title page in Czech only)
Available design: Print design