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Active standard | Published: 01/02/2012
DIN EN 60749-40:2012-02
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 40: Prüfverfahren zum Fall einer Leiterplatte unter Verwendung von Dehnungsmessstreifen.)
Available languages: German
Available design: PDF - Immediate download, Print design
from 105.40 EUR
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Detail information
Designation: DIN EN 60749-40:2012-02
Publication date: 01/02/2012
Pages: 23
Country: German technical standard
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