Aktivní norma | Vydána: 01.02.2012

DIN EN 60749-40:2012-02

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 40: Zkouška pádem osazené desky metodou používající tenzometr..)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

od 2 543.30 CZK zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: DIN EN 60749-40:2012-02

Datum vydání: 01.02.2012

Stran: 23

Země: Německá technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 40: Prüfverfahren zum Fall einer Leiterplatte unter Verwendung von Dehnungsmessstreifen.

Populární vydavatelé

celý katalog