Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
GB - Čínské národní normy
Stránka 4934
GB/T 4937.23-2023 (23.05.2023)
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 23:High temperature operating life
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 314.60 EUR viac informácií
GB/T 4937.24-2025 (02.12.2025)
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 24: Accelerated moisture resistance—Unbiased HAST
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 250.40 EUR viac informácií
GB/T 4937.25-2025 (02.12.2025)
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 25: Temperature cycling
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 314.60 EUR viac informácií
GB/T 4937.26-2023 (07.09.2023)
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing—Human body modelHBM
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 860.40 EUR viac informácií
GB/T 4937.27-2023 (23.05.2023)
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 27: Electrostatic discharge(ESD) sensitivity testing—Machine model(MM)
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 293.20 EUR viac informácií
GB/T 4937.28-2026 (27.02.2026)
Semiconductor devices—Mechanical and climate test methods—Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing—Charged device model (CDM)—device level
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 999.50 EUR viac informácií
GB/T 4937.29-2025 (02.12.2025)
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 29: Latch-up test
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 571.50 EUR viac informácií
GB/T 4937.3-2012 (05.11.2012)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic tests methods - Part 3: External visual examination
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 122.00 EUR viac informácií
GB/T 4937.30-2018 (17.09.2018)
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 196.90 EUR viac informácií
GB/T 4937.31-2023 (23.05.2023)
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 31:Flammability of platic-encapsulated devicesinternally induced
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 164.80 EUR viac informácií
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
