GB - Čínské národní normy

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 23:High temperature operating life

Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 24: Accelerated moisture resistance—Unbiased HAST

Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 25: Temperature cycling

Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing—Human body modelHBM

Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 27: Electrostatic discharge(ESD) sensitivity testing—Machine model(MM)

Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

Semiconductor devices—Mechanical and climate test methods—Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing—Charged device model (CDM)—device level

Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 29: Latch-up test

Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic tests methods - Part 3: External visual examination

Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing

Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 31:Flammability of platic-encapsulated devicesinternally induced

Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné