Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
JIS - Japonské technické normy
Stránka 659
JIS K0149-1:2019 (20.11.2019)
Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Guidelines for calibrating image magnification
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 2 600.00 EUR viac informácií
JIS K0150:2020 (20.07.2020)
Surface chemical analysis -- Analysis of zinc- and/or aluminium-based metallic coatings by glow-discharge optical-emission spectrometry
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 4 300.00 EUR viac informácií
JIS K0151:1983 (31.01.1984)
Non-dispersive infrared gas analyzer
Dostupné jazyky: Anglicky, Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 5 300.00 EUR viac informácií
JIS K0152:2014 (22.07.2014)
Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Repeatability and constancy of intensity scale
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 2 600.00 EUR viac informácií
JIS K0153:2015 (20.10.2015)
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 2 600.00 EUR viac informácií
JIS K0154:2017 (21.08.2017)
Surface chemical analysis -- Guidelines for preparation and mounting of specimens for analysis
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 3 000.00 EUR viac informácií
JIS K0155:2025 (20.05.2025)
Surface chemical analysis-Secondary ion mass spectrometry-Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 7 200.00 EUR viac informácií
JIS K0156:2018 (20.08.2018)
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 3 000.00 EUR viac informácií
JIS K0157:2021 (20.07.2021)
Surface chemical analysis -- Secondary ion mass spectrometry -- Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 3 000.00 EUR viac informácií
JIS K0158:2021 (20.07.2021)
Surface chemical analysis -- Secondary ion mass spectrometry -- Correction method for saturated intensity in single ion counting dynamic secondary ion mass spectrometry
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 3 000.00 EUR viac informácií
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
