STN - Slovenské národní normy

Stránka 3000

78198 nájdených produktov
Zoradiť podľa:
  • relevantnosti
    • relevantnosti
    • dátum (najnovšie)
    • dátum (najstarší)
STN EN IEC 60749-26 (1.2.2019)

STN EN IEC 60749-26 (01.02.2019)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

STN EN IEC 60749-26 (1.5.2026)

STN EN IEC 60749-26 (01.05.2026)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

STN EN 60749-27 (1.5.2007)

STN EN 60749-27 (01.05.2007)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

STN EN 60749-27:2007/A1 (1.4.2013)

STN EN 60749-27:2007/A1 (01.04.2013) Change

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

STN EN IEC 60749-28 (1.7.2022)

STN EN IEC 60749-28 (01.07.2022)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

STN EN 60749-29 (1.12.2011)

STN EN 60749-29 (01.12.2011)

Polovodičové súčiastky. Mechanické a klimatické skúšobné metódy. Časť 29: Skúška latch-up (Norma na priame používanie ako STN).

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

STN EN IEC 60749-30 (1.1.2021)

STN EN IEC 60749-30 (01.01.2021)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

STN EN 60749-31 (1.1.2004)

STN EN 60749-31 (01.01.2004)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

STN EN 60749-32 (1.1.2004)

STN EN 60749-32 (01.01.2004)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

STN EN 60749-32:2004/A1 (1.12.2010)

STN EN 60749-32:2004/A1 (01.12.2010) Change

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.