STN - Slovenské národní normy

Stránka 2999

78198 nájdených produktov
Zoradiť podľa:
  • relevantnosti
    • relevantnosti
    • dátum (najnovšie)
    • dátum (najstarší)
STN EN IEC 60749-21 (1.5.2026)

STN EN IEC 60749-21 (01.05.2026)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

STN EN 60749-22 (1.1.2004)

STN EN 60749-22 (01.01.2004)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 22: Bond strength

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

STN EN IEC 60749-22-1 (1.4.2026)

STN EN IEC 60749-22-1 (01.04.2026)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22-1: Bond strength - Wire bond pull test methods

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

STN EN IEC 60749-22-2 (1.4.2026)

STN EN IEC 60749-22-2 (01.04.2026)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22-2: Bond strength - Wire bond shear test methods

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

STN EN 60749-23 (1.10.2004)

STN EN 60749-23 (01.10.2004)

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods Part 23: High temperature operating life

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

STN EN IEC 60749-23 (1.5.2026)

STN EN IEC 60749-23 (01.05.2026)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

STN EN 60749-23:2004/A1 (1.6.2011)

STN EN 60749-23:2004/A1 (01.06.2011) Change

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods Part 23: High temperature operating life

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

STN EN 60749-24 (1.10.2004)

STN EN 60749-24 (01.10.2004)

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods Part 24: Accelerated moisture resistance – Unbiased HAST

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

STN EN IEC 60749-24 (1.4.2026)

STN EN IEC 60749-24 (01.04.2026)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

STN EN 60749-25 (1.3.2004)

STN EN 60749-25 (01.03.2004)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 25: Temperature cycling

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.