Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Stránka 3004
Polovodičové súčiastky. Mechanické a klimatické skúšobné metódy. Časť 26: Skúšanie citlivosti na elektrostatický výboj (ESD). Model ľudského tela (HBM) (Norma na priame používanie ako STN). (Platnosť do 19.2.2021).
Dostupné prevedenie: Tlačené
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
Dostupné prevedenie: Tlačené
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level
Dostupné prevedenie: Tlačené
Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods Part 29: Latch-up test
Dostupné prevedenie: Tlačené
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
Dostupné prevedenie: Tlačené
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 34: Lastwechselprüfung
Dostupné prevedenie: Tlačené
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
Dostupné prevedenie: Tlačené
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 39: Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components
Dostupné prevedenie: Tlačené
Semiconductor devices for widely used equipment. General specifications. Methods of tests
Dostupné prevedenie: Tlačené
Integrated circuits for widely used equipment. General specifications. Methods of tests
Dostupné prevedenie: Tlačené