STN - Slovenské národní normy

Stránka 3004

78198 nájdených produktov
Zoradiť podľa:
  • relevantnosti
    • relevantnosti
    • dátum (najnovšie)
    • dátum (najstarší)
STN EN 60749-26 (1.2.2015)

STN EN 60749-26 (01.02.2015) Neplatné

Polovodičové súčiastky. Mechanické a klimatické skúšobné metódy. Časť 26: Skúšanie citlivosti na elektrostatický výboj (ESD). Model ľudského tela (HBM) (Norma na priame používanie ako STN). (Platnosť do 19.2.2021).

Dostupné prevedenie: Tlačené

STN EN 60749-26 (1.5.2007)

STN EN 60749-26 (01.05.2007) Neplatné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)

Dostupné prevedenie: Tlačené

STN EN 60749-28 (1.1.2018)

STN EN 60749-28 (01.01.2018) Neplatné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level

Dostupné prevedenie: Tlačené

STN EN 60749-29 (1.7.2004)

STN EN 60749-29 (01.07.2004) Neplatné

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods Part 29: Latch-up test

Dostupné prevedenie: Tlačené

STN EN 60749-30 (1.9.2005)

STN EN 60749-30 (01.09.2005) Neplatné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing

Dostupné prevedenie: Tlačené

STN EN 60749-34 (1.10.2004)

STN EN 60749-34 (01.10.2004) Neplatné

Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 34: Lastwechselprüfung

Dostupné prevedenie: Tlačené

STN EN 60749-37 (1.11.2008)

STN EN 60749-37 (01.11.2008) Neplatné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer

Dostupné prevedenie: Tlačené

STN EN 60749-39 (1.5.2007)

STN EN 60749-39 (01.05.2007) Neplatné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 39: Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components

Dostupné prevedenie: Tlačené

STN 358801 (1.3.1979)

STN 358801 (01.03.1979) Neplatné

Semiconductor devices for widely used equipment. General specifications. Methods of tests

Dostupné prevedenie: Tlačené

STN 358802 (1.3.1979)

STN 358802 (01.03.1979) Neplatné

Integrated circuits for widely used equipment. General specifications. Methods of tests

Dostupné prevedenie: Tlačené

Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.