Neplatné | Vydaná: 15.10.2011

ASTM E2444-11e1 Neplatné

Terminology Relating to Measurements Taken on Thin, Reflecting Films (Includes all amendments And changes 5/28/2018).

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF

od 68.70 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ASTM E2444-11e1

Dátum vydania: 15.10.2011

Stránok: 2

Poznámka: Neplatné

Krajina: Americká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Keywords:
cantilevers, definitions, fixed-fixed beams, interferometry, length measurements, microelectromechanical systems, MEMS, polysilicon, residual strain, stiction, strain gradient, terminology, test structure, ICS Number Code 01.040.31 (Electronics (Vocabularies)), 31.240 (Mechanical structures for electronic equipment)

Populárna vydavatelia

celý katalóg