Neplatná | Vydána: 15.10.2011

ASTM E2444-11e1 Neplatná

Terminology Relating to Measurements Taken on Thin, Reflecting Films (Includes all amendments And changes 5/28/2018).

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 68.70 EUR zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: ASTM E2444-11e1

Datum vydání: 15.10.2011

Stran: 2

Poznámka: Neplatná

Země: Americká technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Keywords:
cantilevers, definitions, fixed-fixed beams, interferometry, length measurements, microelectromechanical systems, MEMS, polysilicon, residual strain, stiction, strain gradient, terminology, test structure, ICS Number Code 01.040.31 (Electronics (Vocabularies)), 31.240 (Mechanical structures for electronic equipment)

Populární vydavatelé

celý katalog