Neplatné | Vydaná: 01.01.1994

ASTM F1228-89(1994)E01 Neplatné

Test Method for Oxidizable (Organic) Carbon on Wafer Surfaces (By Persulfate) (Withdrawn 2001)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF

od 69.70 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ASTM F1228-89(1994)E01

Dátum vydania: 01.01.1994

Stránok: 4

Poznámka: Neplatné

Krajina: Americká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Keywords:
Carbon content-semiconductors, Contamination-semiconductors, Electrical conductors-semiconductors, Microelectronics industry, Organic carbon (OC), Oxidizable carbon, Persulfate oxidation, Semiconductor device testing, Silicon semiconductors, Silicon semiconductors-slices/wafers, wafer surfaces-mass of deposited organic (oxidizable) carbon, contaminants, by persulfate oxidant solution, test

Populárna vydavatelia

celý katalóg