Neplatná | Vydána: 01.01.1994

ASTM F1228-89(1994)E01 Neplatná

Test Method for Oxidizable (Organic) Carbon on Wafer Surfaces (By Persulfate) (Withdrawn 2001)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 69.70 EUR zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: ASTM F1228-89(1994)E01

Datum vydání: 01.01.1994

Stran: 4

Poznámka: Neplatná

Země: Americká technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Keywords:
Carbon content-semiconductors, Contamination-semiconductors, Electrical conductors-semiconductors, Microelectronics industry, Organic carbon (OC), Oxidizable carbon, Persulfate oxidation, Semiconductor device testing, Silicon semiconductors, Silicon semiconductors-slices/wafers, wafer surfaces-mass of deposited organic (oxidizable) carbon, contaminants, by persulfate oxidant solution, test

Populární vydavatelé

celý katalog