Aktívna norma | Vydaná: 23.09.2013

ISO 13424:2013

Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Reporting of results of thin-film analysis
(Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie de photoélectrons X — Rapport des résultats de l´analyse de films minces)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené

od 236.30 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ISO 13424:2013

Dátum vydania: 23.09.2013

Stránok: 46

Krajina: Medzinárodná technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Description / Abstract: ISO 13424:2013 specifies the minimum amount of information required in reports of analyses of thin films on a substrate by XPS. These analyses involve measurement of the chemical composition and thickness of homogeneous thin films, and measurement of the chemical composition as a function of depth of inhomogeneous thin films by angle-resolved XPS, XPS sputter-depth profiling, peak-shape analysis, and variable photon energy XPS.

Populárna vydavatelia

celý katalóg