Aktivní norma | Vydána: 23.09.2013

ISO 13424:2013

Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Reporting of results of thin-film analysis
(Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie de photoélectrons X — Rapport des résultats de l´analyse de films minces)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

od 5 716.70 CZK zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: ISO 13424:2013

Datum vydání: 23.09.2013

Stran: 46

Země: Mezinárodní technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Description / Abstract: ISO 13424:2013 specifies the minimum amount of information required in reports of analyses of thin films on a substrate by XPS. These analyses involve measurement of the chemical composition and thickness of homogeneous thin films, and measurement of the chemical composition as a function of depth of inhomogeneous thin films by angle-resolved XPS, XPS sputter-depth profiling, peak-shape analysis, and variable photon energy XPS.

Populární vydavatelé

celý katalog