Aktívna norma | Vydaná: 18.07.2016

ISO 16700:2016-ed.2.0

Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Guidelines for calibrating image magnification
(Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique a balayage — Lignes directrices pour l´étalonnage du grandissement d´image)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené

od 3 148.00 CZK zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ISO 16700:2016-ed.2.0

Dátum vydania: 18.07.2016

Stránok: 18

Krajina: Medzinárodná technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Description / Abstract: ISO 16700:2016 specifies a method for calibrating the magnification of images generated by a scanning electron microscope (SEM) using an appropriate reference material. This method is limited to magnifications determined by the available size range of structures in the calibrating reference material. It does not apply to the dedicated critical dimension measurement SEM.

Populárna vydavatelia

celý katalóg