Aktivní norma | Vydána: 18.07.2016

ISO 16700:2016-ed.2.0

Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Guidelines for calibrating image magnification
(Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique a balayage — Lignes directrices pour l´étalonnage du grandissement d´image)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

od 130.10 EUR zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: ISO 16700:2016-ed.2.0

Datum vydání: 18.07.2016

Stran: 18

Země: Mezinárodní technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Description / Abstract: ISO 16700:2016 specifies a method for calibrating the magnification of images generated by a scanning electron microscope (SEM) using an appropriate reference material. This method is limited to magnifications determined by the available size range of structures in the calibrating reference material. It does not apply to the dedicated critical dimension measurement SEM.

Populární vydavatelé

celý katalog