Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Strana 3355
Vrstvové a hybridní integrované obvody - Část 4: Informace pro zákazníka, plány úrovní hodnocení výrobku a vzorová předmětová specifikace.
Dostupné provedení: Tištěné
Vrstvové a hybridní integrované obvody - Část 5: Postup pro kvalifikační schválení.
Dostupné provedení: Tištěné
Návody na zkušební metody dynamického odporu v sepnutém stavu pro součástky výkonových měničů založených na GaN HEMT. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).
Dostupné jazyky: Anglicky (v českém jazyce pouze titulní strana)
Dostupné provedení: Tištěné
Zkouška stability tranzistorů MOSFET při namáhání napětím a teplotou. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).
Dostupné jazyky: Anglicky (v českém jazyce pouze titulní strana)
Dostupné provedení: Tištěné
Směšovací polovodičové diody pro velmi vysoké frekvence. Metody měření šumového poměru a normovaného šumového čísla.
Dostupné provedení: Tištěné
Polovodičové součástky - Zkouška časově závislého průrazu dielektrika hradel. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).
Dostupné jazyky: Anglicky (v českém jazyce pouze titulní strana)
Dostupné provedení: Tištěné
Polovodičové součástky - Část 1: Zkouška časově závislého průrazu dielektrika pro intermetalické vrstvy. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).
Dostupné jazyky: Anglicky (v českém jazyce pouze titulní strana)
Dostupné provedení: Tištěné