Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ČSN - České národní normy
Stránka 3355
ČSN EN 165000-4 (01.09.1997) Neplatné
Film and hybrid integrated circuits - Part 4: Customer information, product assessment level schedules and blank detail specification
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 22.40 EUR viac informácií
ČSN EN 165000-5 (01.11.1998) Neplatné
Film and hybrid integrated circuits - Part 5: Procedure for qualification approval
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 14.50 EUR viac informácií
ČSN EN IEC 63373 (01.10.2022)
Dynamic on-resistance test method guidelines for GaN HEMT based power conversion devices
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 14.00 EUR viac informácií
ČSN EN 62373 (01.03.2007)
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 14.50 EUR viac informácií
ČSN 358767-1 (20.11.1984) Neplatné
Směšovací polovodičové diody pro velmi vysoké frekvence. Metody měření šumového poměru a normovaného šumového čísla.
Dostupné prevedenie: Tlačené
ČSN EN 62374 (01.05.2008)
Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 17.90 EUR viac informácií
ČSN EN 62374-1 (01.07.2011)
Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 14.00 EUR viac informácií
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
