IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace

Strana 399

11545 nalezených produktů
Seřadit podle:
  • relevance
    • relevance
    • datum (nejnovější)
    • datum (nejstarší)
IEC 60749-42-ed.1.0 (12.8.2014)

IEC 60749-42-ed.1.0 (12.08.2014)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 42: Stockage de temperature et d´humidite)

Dostupné jazyky: Anglicky a francouzsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

od 631.40 CZK více informací
IEC 60749-44-ed.1.0 (21.7.2016)

IEC 60749-44-ed.1.0 (21.07.2016)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 44: Methode d´essai des effets d´un evenement isole (SEE) irradie par un faisceau de neutrons pour des dispositifs a semiconducteurs)

Dostupné jazyky: Anglicky a francouzsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

od 5 051.10 CZK více informací
IEC 60749-5-ed.3.0 (19.12.2023)

IEC 60749-5-ed.3.0 (19.12.2023)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 5: Essai continu de duree de vie sous temperature et humidite avec polarisation)

Dostupné jazyky: Anglicky a francouzsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

od 1 262.80 CZK více informací
IEC 60749-5-ed.3.0-RLV (19.12.2023)

IEC 60749-5-ed.3.0-RLV (19.12.2023)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

od 2 146.70 CZK více informací
IEC 60749-6-ed.2.0 (3.3.2017)

IEC 60749-6-ed.2.0 (03.03.2017)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 6: Stockage a haute temperature)

Dostupné jazyky: Anglicky, Anglicky a francouzsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

od 631.40 CZK více informací
IEC 60749-7-ed.3.0 (27.11.2025)

IEC 60749-7-ed.3.0 (27.11.2025)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 7: Mesure de la teneur en humidite interne et analyse des autres gaz residuels)

Dostupné jazyky: Anglicky, Francouzsky, Anglicky a francouzsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

od 2 525.60 CZK více informací
IEC 60749-8-ed.1.0 (30.8.2002)

IEC 60749-8-ed.1.0 (30.08.2002)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 8: Etancheite)

Dostupné jazyky: Španělsky, Anglicky a francouzsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

od 2 525.60 CZK více informací
IEC 60749-8-ed.1.0/Cor.1 (23.4.2003)

IEC 60749-8-ed.1.0/Cor.1 (23.04.2003) Oprava

Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
(Corrigendum 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 8: Etancheite)

Dostupné jazyky: Anglicky a francouzsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

od 31.60 CZK více informací
IEC 60749-8-ed.1.0/Cor.2 (12.8.2003)

IEC 60749-8-ed.1.0/Cor.2 (12.08.2003) Oprava

Corrigendum 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
(Corrigendum 2 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 8: Etancheite)

Dostupné jazyky: Anglicky a francouzsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

od 31.60 CZK více informací
IEC 60749-9-ed.2.0 (3.3.2017)

IEC 60749-9-ed.2.0 (03.03.2017)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 9: Permanence du marquage)

Dostupné jazyky: Anglicky, Anglicky a francouzsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

od 1 262.80 CZK více informací
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.