Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Thermal standardization on semiconductor packages. Thermal resistance and capacitance model for transient temperature prediction at junction and measurement points.
(Tepelná normalizace polovodičových pouzder - Část 6: Model tepelného odporu a kapacity pro předpověď přechodové teploty v místech spojení a měření. )
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Označení: BS EN IEC 63378-6:2026
Datum vydání: 24.03.2026
Stran: 34
Země: Britská technická norma