BS - Britské národní normy

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Accelerated moisture resistance. Unbiased autoclave.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 33: Odolnost vůči velmi zrychlené zkoušce vlhkostí - Autokláv bez předpětí. )

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Power cycling test for power semiconductor module.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 34-1: Zkouška výkonovým cyklováním pro výkonové polovodičové moduly. )

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Power cycling.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 34: Výkonové cykly. )

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 35: Akustická mikroskopie pro elektronické součástky zapouzdřené v plastu. )

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Acceleration, steady state.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 36: Stálé zrychlení. )

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Board level drop test method using an accelerometer.

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Board level drop test method using an accelerometer.

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Soft error test method for semiconductor devices with memory.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 38: Metoda zkoušení četnosti občasných chyb polovodičových součástek s pamětí. )

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components.

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components.

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné