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Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs) (IEC 62417:2010)
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Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors (IEC 62416:2010)
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Semiconductor devices - Constant current electromigration test (IEC 62415:2010)
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Semiconductor devices - Metallization stress void test (IEC 62418:2010)
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Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 1: Terms and definitions
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