Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ČSN - České národní normy
Stránka 3356
ČSN EN 62417 (01.12.2010)
Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs) (IEC 62417:2010)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 9.20 EUR viac informácií
ČSN EN 62416 (01.12.2010)
Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors (IEC 62416:2010)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 9.20 EUR viac informácií
ČSN EN 62415 (01.12.2010)
Semiconductor devices - Constant current electromigration test (IEC 62415:2010)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 9.20 EUR viac informácií
ČSN EN 62418 (01.01.2011)
Semiconductor devices - Metallization stress void test (IEC 62418:2010)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 17.90 EUR viac informácií
ČSN EN 62047-1-ed.2 (01.09.2016)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 1: Terms and definitions
Dostupné jazyky: Česky
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 14.50 EUR viac informácií
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
