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IEC - Internationale elektrotechnische Organisation
Seite 802
IEC 62047-44-ed.1.0 (22.02.2024)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 44: Test methods for dynamic performances of MEMS resonant electric-field-sensitive devices
Verfügbare Sprachen: Englisch
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ab 148.70 EUR weitere informationen
IEC 62047-45-ed.1.0 (20.03.2025)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 45: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of impact resistance of nanostructures
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM
ab 103.40 EUR weitere informationen
IEC 62047-46-ed.1.0 (23.04.2025)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 46: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of tensile strength of nanoscale thickness membrane
Verfügbare Sprachen: Englisch
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IEC 62047-47-ed.1.0 (23.08.2024)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 47: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of bending strength of microstructures
Verfügbare Sprachen: Englisch
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IEC 62047-48-ed.1.0 (07.06.2024)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 48: Test method for determining solution concentration by optical absorption using MEMS fluidic device
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM
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IEC 62047-49-ed.1.0 (25.11.2025)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 49: Temperature and humidity test methods for piezoelectric MEMS cantilevers
Verfügbare Sprachen: Englisch
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IEC 62047-5-ed.1.0 (13.07.2011)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 5: RF MEMS switches
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 5: Commutateurs MEMS-RF)
Verfügbare Sprachen: Englisch und Französisch
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ab 336.20 EUR weitere informationen
IEC 62047-5-ed.1.0/Cor.1 (08.03.2012) Correction
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 5: RF MEMS switches
(Corrigendum 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 5: Commutateurs MEMS-RF)
Verfügbare Sprachen: Englisch und Französisch
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IEC 62047-50-ed.1.0 (29.04.2025)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 50: MEMS capacitive microphones
Verfügbare Sprachen: Englisch
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IEC 62047-52-ed.1.0 (04.03.2026)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 52: Biaxial tensile testing method for stretchable MEMS
Verfügbare Sprachen: Englisch
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