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IEC - Internationale elektrotechnische Organisation
Seite 803
IEC 62047-53-ed.1.0 (02.10.2025)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 53: MEMS electrothermal transfer device
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM
ab 103.40 EUR weitere informationen
IEC 62047-6-ed.1.0 (07.04.2009)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 6: Methodes d´essais de fatigue axiale des materiaux en couche mince)
Verfügbare Sprachen: Englisch und Französisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM
ab 103.40 EUR weitere informationen
IEC 62047-7-ed.1.0 (16.06.2011)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 7: MEMS BAW filter and duplexer for radio frequency control and selection
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 7: Filtre et duplexeur BAW MEMS pour la commande et le choix des frequences radioelectriques)
Verfügbare Sprachen: Englisch und Französisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM
ab 271.50 EUR weitere informationen
IEC 62047-8-ed.1.0 (14.03.2011)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 8: Methode d´essai de la flexion de bandes en vue de la mesure des proprietes de traction des couches minces)
Verfügbare Sprachen: Englisch und Französisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM
ab 148.70 EUR weitere informationen
IEC 62047-9-ed.1.0 (13.07.2011)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 9: Wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositif microelectromecaniques - Partie 9: Mesure de la resistance de collage de deux plaquettes pour les MEMS)
Verfügbare Sprachen: Englisch und Französisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM
ab 206.90 EUR weitere informationen
IEC 62047-9-ed.1.0/Cor.1 (08.03.2012) Correction
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 9: Wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS
(Corrigendum 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 9: Mesure de la resistance de collage de deux plaquettes pour les MEMS)
Verfügbare Sprachen: Englisch und Französisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM
ab 1.30 EUR weitere informationen
IEC/TR 62048-ed.3.0 (22.01.2014)
Optical fibres - Reliability - Power law theory
Verfügbare Sprachen: Englisch
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ab 491.40 EUR weitere informationen
IEC/TR 62051-1-ed.1.0 (12.01.2004)
Electricity metering - Data exchange for meter reading, tariff and load control - Glossary of terms - Part 1: Terms related to data exchange with metering equipment using DLMS/COSEM
Verfügbare Sprachen: Englisch
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ab 336.20 EUR weitere informationen
IEC/TR 62051-1-ed.1.0/Cor.1 (13.06.2005) Correction
Corrigendum 1 - Electricity metering - Data exchange for meter reading, tariff and load control - Glossary of terms - Part 1: Terms related to data exchange with metering equipment using DLMS/COSEM
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM
ab 1.30 EUR weitere informationen
IEC/TR 62051-ed.1.0 (23.04.1999)
Electricity metering - Glossary of terms
Verfügbare Sprachen: Englisch, Spanisch
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ab 433.20 EUR weitere informationen
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