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JIS - Japanische technische Standards
Seite 652
JIS K0145:2002 (30.04.2002)
Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectrometers -- Calibration of energy scales
Verfügbare Sprachen: Japanisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 4 826.20 USD weitere informationen
JIS K0146:2002 (30.04.2002)
Surface chemical analysis -- Sputter depth profiling -- Optimization using layered systems as reference materials
Verfügbare Sprachen: Japanisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 3 531.30 USD weitere informationen
JIS K0147-1:2017 (21.08.2017)
Surface chemical analysis -- Vocabulary -- Part 1: General terms and terms used in spectroscopy
Verfügbare Sprachen: Japanisch
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ab 7 415.80 USD weitere informationen
JIS K0147-2:2017 (21.08.2017)
Surface chemical analysis -- Vocabulary -- Part 2: Terms used in scanning-probe microscopy
Verfügbare Sprachen: Japanisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 6 003.30 USD weitere informationen
JIS K0148:2026 (20.01.2026)
Surface chemical analysis-Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
Verfügbare Sprachen: Japanisch
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ab 8 475.20 USD weitere informationen
JIS K0149-1:2019 (20.11.2019)
Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Guidelines for calibrating image magnification
Verfügbare Sprachen: Japanisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 3 060.50 USD weitere informationen
JIS K0150:2020 (20.07.2020)
Surface chemical analysis -- Analysis of zinc- and/or aluminium-based metallic coatings by glow-discharge optical-emission spectrometry
Verfügbare Sprachen: Japanisch
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ab 5 061.60 USD weitere informationen
JIS K0151:1983 (31.01.1984)
Non-dispersive infrared gas analyzer
Verfügbare Sprachen: Englisch, Japanisch
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ab 6 238.70 USD weitere informationen
JIS K0152:2014 (22.07.2014)
Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Repeatability and constancy of intensity scale
Verfügbare Sprachen: Japanisch
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ab 3 060.50 USD weitere informationen
JIS K0153:2015 (20.10.2015)
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry
Verfügbare Sprachen: Japanisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 3 060.50 USD weitere informationen
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