Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
JIS - Japonské technické normy
Stránka 652
JIS K0145:2002 (30.04.2002)
Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectrometers -- Calibration of energy scales
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 4 100.00 EUR viac informácií
JIS K0146:2002 (30.04.2002)
Surface chemical analysis -- Sputter depth profiling -- Optimization using layered systems as reference materials
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 3 000.00 EUR viac informácií
JIS K0147-1:2017 (21.08.2017)
Surface chemical analysis -- Vocabulary -- Part 1: General terms and terms used in spectroscopy
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 6 300.00 EUR viac informácií
JIS K0147-2:2017 (21.08.2017)
Surface chemical analysis -- Vocabulary -- Part 2: Terms used in scanning-probe microscopy
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 5 100.00 EUR viac informácií
JIS K0148:2026 (20.01.2026)
Surface chemical analysis-Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 7 200.00 EUR viac informácií
JIS K0149-1:2019 (20.11.2019)
Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Guidelines for calibrating image magnification
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 2 600.00 EUR viac informácií
JIS K0150:2020 (20.07.2020)
Surface chemical analysis -- Analysis of zinc- and/or aluminium-based metallic coatings by glow-discharge optical-emission spectrometry
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 4 300.00 EUR viac informácií
JIS K0151:1983 (31.01.1984)
Non-dispersive infrared gas analyzer
Dostupné jazyky: Anglicky, Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 5 300.00 EUR viac informácií
JIS K0152:2014 (22.07.2014)
Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Repeatability and constancy of intensity scale
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 2 600.00 EUR viac informácií
JIS K0153:2015 (20.10.2015)
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 2 600.00 EUR viac informácií
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
