Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ČSN - České národní normy
Stránka 3357
ČSN EN 62047-2 (01.05.2007)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 2: Tensile testing method of thin film materials
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 14.50 EUR viac informácií
ČSN EN 62047-3 (01.05.2007)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 14.00 EUR viac informácií
ČSN EN 62047-4 (01.05.2011)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4: Generic specification for MEMS
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 14.50 EUR viac informácií
ČSN EN 62047-5 (01.03.2012)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 5: RF MEMS switches
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 17.90 EUR viac informácií
ČSN EN 62047-5:2012/Oprava1 (01.08.2012) Correction
Polovodičové součástky - Mikroelektromechanické součástky - Část 5: Spínače RF MEMS. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 2.60 EUR viac informácií
ČSN EN 62047-6 (01.11.2010)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials (IEC 62047-6:2009)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 14.00 EUR viac informácií
ČSN EN 62047-7 (01.02.2012)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 7: MEMS BAW filter and duplexer for radio frequency control and selection
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 14.50 EUR viac informácií
ČSN EN 62047-8 (01.12.2011)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 14.00 EUR viac informácií
ČSN EN 62047-9 (01.03.2012)
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 9: Wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 14.50 EUR viac informácií
ČSN EN 62047-9:2012/Oprava1 (01.08.2012) Correction
Polovodičové součástky - Mikroelektromechanické součástky - Část 9: Měření pevnosti spojení dvou destiček pro MEMS. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 2.60 EUR viac informácií
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
