IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace

Stránka 394

11545 nájdených produktov
Zoradiť podľa:
  • relevantnosti
    • relevantnosti
    • dátum (najnovšie)
    • dátum (najstarší)
IEC 60749-18-ed.2.0 (10.4.2019)

IEC 60749-18-ed.2.0 (10.04.2019)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 18: Rayonnements ionisants (dose totale))

Dostupné jazyky: Anglicky a francúzsky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené, CD-ROM

od 208.20 EUR viac informácií
IEC 60749-18-ed.2.0-RLV (10.4.2019)

IEC 60749-18-ed.2.0-RLV (10.04.2019)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené, CD-ROM

od 354.00 EUR viac informácií
IEC 60749-19-ed.1.0 (13.2.2003)

IEC 60749-19-ed.1.0 (13.02.2003)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 19: Resistance de la pastille au cisaillement)

Dostupné jazyky: Španielsky, Anglicky a francúzsky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené, CD-ROM

od 26.00 EUR viac informácií
IEC 60749-19-ed.1.0/Amd.1 (28.7.2010)

IEC 60749-19-ed.1.0/Amd.1 (28.07.2010) Change

Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength
(Amendement 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 19: Resistance de la pastille au cisaillement)

Dostupné jazyky: Španielsky, Anglicky a francúzsky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené, CD-ROM

od 13.00 EUR viac informácií
IEC 60749-19-ed.1.1+Amd.1-CSV (29.11.2010)

IEC 60749-19-ed.1.1+Amd.1-CSV (29.11.2010)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 19: Resistance de la pastille au cisaillement)

Dostupné jazyky: Anglicky a francúzsky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené, CD-ROM

od 65.10 EUR viac informácií
IEC 60749-2-ed.1.0 (12.4.2002)

IEC 60749-2-ed.1.0 (12.04.2002)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 2: Basse pression atmospherique)

Dostupné jazyky: Španielsky, Anglicky a francúzsky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené, CD-ROM

od 26.00 EUR viac informácií
IEC 60749-2-ed.1.0/Cor.1 (12.8.2003)

IEC 60749-2-ed.1.0/Cor.1 (12.08.2003) Correction

Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
(Corrigendum 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 2: Basse pression atmospherique)

Dostupné jazyky: Anglicky a francúzsky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené, CD-ROM

od 1.30 EUR viac informácií
IEC 60749-20-1-ed.2.0 (26.6.2019)

IEC 60749-20-1-ed.2.0 (26.06.2019)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20-1: Handling, packing, labelling and shipping of surface-mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 20-1: Manipulation, emballage, etiquetage et transport des composants pour montage en surface sensibles a l´effet combine de l´humidite et de la chaleur de brasage)

Dostupné jazyky: Anglicky a francúzsky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené, CD-ROM

od 383.90 EUR viac informácií
IEC 60749-20-1-ed.2.0-RLV (26.6.2019)

IEC 60749-20-1-ed.2.0-RLV (26.06.2019)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20-1: Handling, packing, labelling and shipping of surface-mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené, CD-ROM

od 653.30 EUR viac informácií
IEC 60749-20-ed.3.0 (31.8.2020)

IEC 60749-20-ed.3.0 (31.08.2020)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 20 : Resistances des CMS a boitier plastique a l’effet combine de l’humidite et de la chaleur de brasage)

Dostupné jazyky: Anglicky a francúzsky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené, CD-ROM

od 273.30 EUR viac informácií
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.