IEC - Mezinárodní elektrotechnická organizace

Strana 394

11582 nalezených produktů
Seřadit podle:
  • relevance
    • relevance
    • datum (nejnovější)
    • datum (nejstarší)
IEC 60749-23-ed.2.0 (9.12.2025)

IEC 60749-23-ed.2.0 (09.12.2025)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 23 : Duree de vie en fonctionnement a haute temperature)

Dostupné jazyky: Anglicky, Francouzsky, Anglicky a francouzsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

od 1 235.00 CZK více informací
IEC 60749-23-ed.2.0-RLV (9.12.2025)

IEC 60749-23-ed.2.0-RLV (09.12.2025)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

od 2 099.50 CZK více informací
IEC 60749-24-ed.2.0 (27.11.2025)

IEC 60749-24-ed.2.0 (27.11.2025)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 24: Resistance a l´humidite acceleree - HAST sans polarisation)

Dostupné jazyky: Anglicky, Francouzsky, Anglicky a francouzsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

od 1 235.00 CZK více informací
IEC 60749-24-ed.2.0-RLV (27.11.2025)

IEC 60749-24-ed.2.0-RLV (27.11.2025)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

od 2 099.50 CZK více informací
IEC 60749-25-ed.1.0 (11.7.2003)

IEC 60749-25-ed.1.0 (11.07.2003)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 25: Cycles de temperature)

Dostupné jazyky: Španělsky, Anglicky a francouzsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

od 2 470.00 CZK více informací
IEC 60749-26-ed.5.0 (23.12.2025)

IEC 60749-26-ed.5.0 (23.12.2025)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 26: Essai de sensibilite aux decharges electrostatiques (DES) - Modele du corps humain (HBM))

Dostupné jazyky: Anglicky, Francouzsky, Anglicky a francouzsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

od 10 343.10 CZK více informací
IEC 60749-26-ed.5.0-CMV (23.12.2025)

IEC 60749-26-ed.5.0-CMV (23.12.2025)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, CD-ROM

od 20 686.10 CZK více informací
IEC 60749-27-ed.2.0 (18.7.2006)

IEC 60749-27-ed.2.0 (18.07.2006)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 27: Essai de sensibilite aux decharges electrostatiques (DES) - Modele de machine (MM))

Dostupné jazyky: Anglicky a francouzsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

od 2 470.00 CZK více informací
IEC 60749-27-ed.2.0/Amd.1 (25.9.2012)

IEC 60749-27-ed.2.0/Amd.1 (25.09.2012) Změna

Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
(Amendement 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 27: Essai de sensibilite aux decharges electrostatiques (DES) - Modele de machine (MM))

Dostupné jazyky: Anglicky a francouzsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

od 308.70 CZK více informací
IEC 60749-27-ed.2.1+Amd.1-CSV (25.9.2012)

IEC 60749-27-ed.2.1+Amd.1-CSV (25.09.2012)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques etclimatiques - Partie 27: Essai de sensibilite aux decharges electrostatiques (DES) - Modele de machine (MM))

Dostupné jazyky: Anglicky a francouzsky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné, CD-ROM

od 4 785.60 CZK více informací
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.