Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
JIS - Japonské technické normy
Stránka 653
JIS K0154:2017 (21.08.2017)
Surface chemical analysis -- Guidelines for preparation and mounting of specimens for analysis
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 3 000.00 EUR viac informácií
JIS K0155:2025 (20.05.2025)
Surface chemical analysis-Secondary ion mass spectrometry-Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 7 200.00 EUR viac informácií
JIS K0156:2018 (20.08.2018)
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 3 000.00 EUR viac informácií
JIS K0157:2021 (20.07.2021)
Surface chemical analysis -- Secondary ion mass spectrometry -- Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 3 000.00 EUR viac informácií
JIS K0158:2021 (20.07.2021)
Surface chemical analysis -- Secondary ion mass spectrometry -- Correction method for saturated intensity in single ion counting dynamic secondary ion mass spectrometry
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 3 000.00 EUR viac informácií
JIS K0159:2021 (22.11.2021)
Surface chemical analysis -- Scanning-probe microscopy -- Determination of geometric quantities using SPM: Calibration of measuring systems
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 5 100.00 EUR viac informácií
JIS K0160:2026 (20.01.2026)
Surface chemical analysis-Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 7 200.00 EUR viac informácií
JIS K0161:2010 (20.04.2010)
Surface chemical analysis -- Auger electron spectroscopy -- Description of selected instrumental performance parameters
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 2 600.00 EUR viac informácií
JIS K0162:2010 (20.04.2010)
Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Description of selected instrumental performance parameters
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 2 600.00 EUR viac informácií
JIS K0163:2010 (20.04.2010)
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 1 800.00 EUR viac informácií
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
