DIN - Německé národní normy

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 33: Odolnost vůči velmi zrychlené zkoušce vlhkostí - Autokláv bez předpětí..)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 34-1: Zkouška výkonovým cyklováním pro výkonové polovodičové moduly..)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 34: Výkonové cykly. .)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 35: Akustická mikroskopie pro elektronické součástky zapouzdřené v plastu..)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 36: Stálé zrychlení..)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer.

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 38: Metoda zkoušení četnosti občasných chyb polovodičových součástek s pamětí..)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 39: Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components.

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST).
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 4: Vlhké teplo konstantní, velmi zrychlená zkouška namáháním (HAST). .)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 40: Zkouška pádem osazené desky metodou používající tenzometr..)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné