DIN - Německé národní normy

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 41: Standardní metody zkoušení spolehlivosti paměťových součástek nezávislých na napájení..)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 42: Teplota a vlhkost skladování..)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 44: Zkušební metoda efektu samostatné události (SEE) pomocí ozáření neutronovým svazkem pro polovodičové součástky..)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

VDE 0884-749-5. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test.

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: Tištěné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 6: Skladování při vysoké teplotě. (Text normy není součástí výtisku)..)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 7: Měření obsahu vnitřní vlhkosti a analýza dalších zbytkových plynů. (Text normy není součástí výtisku)..)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

VDE 0884-749-7. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases.

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: Tištěné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 8: Hermetičnost..)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 9: Trvanlivost značení. (Text normy není součástí výtisku)..)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Means of packaging - Bottles - Part 1: Vichy-shape 1.

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné