Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ČSN - České národní normy
Stránka 3384
ČSN EN 60749-14 (01.06.2004)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 14.50 EUR viac informácií
ČSN EN IEC 60749-15-ed.3 (01.03.2021)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 9.20 EUR viac informácií
ČSN EN 60749-16 (01.11.2003)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 9.20 EUR viac informácií
ČSN EN IEC 60749-17-ed.2 (01.11.2019)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 9.20 EUR viac informácií
ČSN EN IEC 60749-18-ed.2 (01.12.2019)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 14.50 EUR viac informácií
ČSN EN 60749-19 (01.12.2003)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 9.20 EUR viac informácií
ČSN EN 60749-19:2003/A1 (01.05.2011) Change
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 19: Zkouška pevnosti čipu střihem. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 7.70 EUR viac informácií
ČSN EN IEC 60749-20-ed.3 (01.04.2021)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 17.90 EUR viac informácií
ČSN EN 60749-20-1 (01.12.2009)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20-1: Handling, packing, labelling and shipping of surface-mount device sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 17.90 EUR viac informácií
ČSN EN IEC 60749-20-1-ed.2 (01.09.2026)
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 20-1: Manipulace, balení, značení a přeprava povrchově montovaných součástek citlivých na společné působení vlhkosti a tepla při pájení. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 22.40 EUR viac informácií
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
