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ASTM - Amerikanische technische Normen
Seite 8101
ASTM F1259M-96 (01.01.1996) Ungültige
Standard Guide for Design of Flat, Straight-Line Test Structures for Detecting Metallization Open-Circuit or Resistance-Increase Failure Due to Electromigration [Metric]
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF
ab 69.70 EUR weitere informationen
ASTM F1259M-96(2003) (10.06.1996) Ungültige
Standard Guide for Design of Flat, Straight-Line Test Structures for Detecting Metallization Open-Circuit or Resistance-Increase Failure Due to Electromigration [Metric] (Withdrawn 2009)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF
ab 69.70 EUR weitere informationen
ASTM F126 Ungültige
Definitions of Terms Relating to Which Relate to the Use and Testing of Ferrite Memory Cores and Memory Core Arrays (Withdrawn 1976)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF, Norm und Redline – Sicheres Online-PDF
ASTM F1260-89 (01.01.1989) Ungültige
Test Method for Estimating Electromigration Median Time-To-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF
ab 77.80 EUR weitere informationen
ASTM F1260M-96 (01.01.1996) Ungültige
Standard Test Method for Estimating Electromigration Median Time-To-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations [Metric]
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF
ab 77.80 EUR weitere informationen
ASTM F1260M-96(2003) (10.06.1996) Ungültige
Standard Test Method for Estimating Electromigration Median Time-to-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations [Metric] (Withdrawn 2009)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF
ab 77.80 EUR weitere informationen
ASTM F1261M-96 (01.01.1996) Ungültige
Standard Test Method for Determining the Average Electrical Width of a Straight, Thin-Film Metal Line [Metric]
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF
ab 69.70 EUR weitere informationen
ASTM F1261M-96(2003) (10.06.1996) Ungültige
Standard Test Method for Determining the Average Electrical Width of a Straight, Thin-Film Metal Line [Metric] (Withdrawn 2009)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF
ab 69.70 EUR weitere informationen
ASTM F1262M-14 (01.06.2014) Ungültige
Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold Testing of Digital Integrated Circuits (Metric) (Withdrawn 2023)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF
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ASTM F1262M-95 (10.11.1995) Ungültige
Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold of Digital Integrated Circuits
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF
ab 77.80 EUR weitere informationen
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