Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
ASTM - Americké technické normy
Stránka 8101
ASTM F1259M-96 (01.01.1996) Neplatné
Standard Guide for Design of Flat, Straight-Line Test Structures for Detecting Metallization Open-Circuit or Resistance-Increase Failure Due to Electromigration [Metric]
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF
od 69.70 EUR viac informácií
ASTM F1259M-96(2003) (10.06.1996) Neplatné
Standard Guide for Design of Flat, Straight-Line Test Structures for Detecting Metallization Open-Circuit or Resistance-Increase Failure Due to Electromigration [Metric] (Withdrawn 2009)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF
od 69.70 EUR viac informácií
ASTM F126 Neplatné
Definitions of Terms Relating to Which Relate to the Use and Testing of Ferrite Memory Cores and Memory Core Arrays (Withdrawn 1976)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF, Norma a Redline - Online zabezpečené PDF
ASTM F1260-89 (01.01.1989) Neplatné
Test Method for Estimating Electromigration Median Time-To-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF
od 77.80 EUR viac informácií
ASTM F1260M-96 (01.01.1996) Neplatné
Standard Test Method for Estimating Electromigration Median Time-To-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations [Metric]
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF
od 77.80 EUR viac informácií
ASTM F1260M-96(2003) (10.06.1996) Neplatné
Standard Test Method for Estimating Electromigration Median Time-to-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations [Metric] (Withdrawn 2009)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF
od 77.80 EUR viac informácií
ASTM F1261M-96 (01.01.1996) Neplatné
Standard Test Method for Determining the Average Electrical Width of a Straight, Thin-Film Metal Line [Metric]
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF
od 69.70 EUR viac informácií
ASTM F1261M-96(2003) (10.06.1996) Neplatné
Standard Test Method for Determining the Average Electrical Width of a Straight, Thin-Film Metal Line [Metric] (Withdrawn 2009)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF
od 69.70 EUR viac informácií
ASTM F1262M-14 (01.06.2014) Neplatné
Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold Testing of Digital Integrated Circuits (Metric) (Withdrawn 2023)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF
od 77.80 EUR viac informácií
ASTM F1262M-95 (10.11.1995) Neplatné
Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold of Digital Integrated Circuits
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF
od 77.80 EUR viac informácií
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
